高低温循环测试方法
发布时间:2019-07-12
确定元件、设备和其它产品经受环境温度快速变化的能力;试验是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环,执行温度循环试验之严厉度系以高/低温度范围,停留时间以及循环数来决定。为避开温度冲击影响,温度循环试验时的温度变化率必须小于20℃/分钟。温度循环主要影响:丧失电性功能,焊点裂化、PCB脱层、结构丧失机械强度与塑性变形,玻璃与光学制品破裂,零件特性能退化,断裂,移动件松弛,材料收缩膨胀,气密与绝缘保护失效等。
温度循环与温度冲击试验的区别:
1、温变率不同:温试验冲击的升温/降温速率不低于30℃/分钟;温度循环升温/降温速率小于20℃/分钟;
2、应力负荷机理不同:温度冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效;
3、试验装置不同:温度冲击试验容许使用二槽式试验装置;温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内,温度变化率要大于50℃/分钟。
温度循环试验标准:
1、MIT-STD-883EMethod1010.7
2、JESD22-A104-A
3、EIAJED-4701-B-131
4、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
5、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
6、EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
想了解更多检测认证相关资讯或者是有产品想要申请检测认证的欢迎拨打亿博热线:0755-33126608,0755-29451282进行咨询。
亿博检测高级销售顾问certified engineer
刘巧 联系方式:13686173586 座机:0755-27958201
邮箱:liuqiao@ebotek.cn
地址:深圳市宝安区西乡街道银田工业区侨鸿盛文化创意园A栋219-220
上一篇:
什么样的情况下电路板需要做EMC测试呢? 下一篇:
高低温测试的目的是什么?